2022校招 大疆创新-数字芯片开发工程师A卷 (持续更新...)

写在最前面
答案只是自己查阅资料后所写，不一定正确，欢迎大家留言讨论

文章目录

• • • 单选题 (60分，5分/题)
    • • 1. 下列关于stuck-at故障模型描述错误的一个是( )
      • 2. 下列关于芯片中电迁移的描述错误的一个是( )
      • 3. 下列会直接影响到芯片工作频率的一个违例是( )
      • 4. 从奈奎斯特采样定理得出，要使实信号采样后能够不失真还原，采样频率f与信号最高频率fs的关系是( )
      • 5. 以下是对Cache-主存-辅存三级存储系统中各级存储器的作用，速度，容量的描述，其中完成正确的是( )
      • 6. 关于linux命令，下面说法错误的是( )
      • 7. 关于综合工具，以下说法正确的是( )
      • 8. 运行以下程序输出的值是( )
      • 9. DUT中有一个寄存器“DJI_ID_HEAD”，该DUT通过APB总线端口与SoC互联，“DJI_ID_HEAD”寄存器的描述如下：请问在DUT的APB总线端口上能看到多少笔有效的数据传输？( )
      • 10. systemverilog语句，已知：int arr[2][ ][ ];arr[0] = new[4];以下哪个操作是合法的: ( )
      • 11. 假设如下：以下代码可以正确打印出a值的选项是( )
      • 12. 数字逻辑在掉电后输出信号一般采用钳位控制(isolation)的原因是( )
    • 多选题 (40分，5分/题)
    • • 1. 下列属于DFT故障模型的是: ( )
      • 2. 下列属于芯片中时钟树综合质量评价指标的有: ( )
      • 3. 下列属于降低芯片静态压降的方法有: ( )
      • 4. 以下哪些手段可以降低SRAM的动态功耗( )
      • 5. 关于异步处理，以下说法正确的是( )
      • 6. Verilog语言中，下列哪些语句不可以被综合: ( )
      • 7. 下列说法正确的是( )
      • 8. 以下哪一种门电路属于通用逻辑门(可以组合搭建出任何逻辑电路)( )
    • 答案：
    • 参考链接：

单选题 (60分，5分/题)

1. 下列关于stuck-at故障模型描述错误的一个是( )

• A. 组合逻辑上的Fault点可以做故障合并
• B. 用于覆盖内部得时序故障
• C. 正常Capture阶段只有1个Pulse
• D. 对于Full-scan设计可以达成很高得故障覆盖率

2. 下列关于芯片中电迁移的描述错误的一个是( )

• A. 用电迁移后降低芯片寿命
• B. 电迁移会使芯片性能退化
• C. 增加导线宽度可以修复电迁移违例
• D. 增加导线间距可以修复电迁移违例

3. 下列会直接影响到芯片工作频率的一个违例是( )

• A. 建立时间违例
• B. 保持间距违例
• C. 最大转换时间违例
• D. 最大扇出违例

4. 从奈奎斯特采样定理得出，要使实信号采样后能够不失真还原，采样频率f与信号最高频率fs的关系是( )

• A. f大于等于2fs
• B. f小于等于2fs
• C. f大于等于fs
• D. f小于等于fs

5. 以下是对Cache-主存-辅存三级存储系统中各级存储器的作用，速度，容量的描述，其中完成正确的是( )

• A. 主存用于存放CPU正在执行的程序，速度慢，容量极大
• B. Cache用于存放CPU当前访问频繁的程序和数据，速度快，容量小
• C. 辅存用于存放需要联机保存但暂不执行的程序和数据，速度快，容量极大
• D. 加大Cache的容量可以使主存能够存放更多的程序和数据

6. 关于linux命令，下面说法错误的是( )

• A. find .-name “*.txt” 命令会列出当前目录及子目录下所有以.txt结尾的文件
• B. mv master.map master1.map 命令的作用是把master.map文件复制成master1.map
• C. 要解压缩一个名字为test.tar.gz的文件可以使用命令tar -xzvf test.tar.gz

本文来自互联网用户投稿，文章观点仅代表作者本人，不代表本站立场，不承担相关法律责任。如若转载，请注明出处。 如若内容造成侵权/违法违规/事实不符，请点击【内容举报】进行投诉反馈！