【计算机图形学】过取样反走样与区域取样
过取样反走样与区域取样
在光栅图形显示器上绘制非水平且非垂直的直线或多边形边界时，或多或少会呈现锯齿状或台阶状外观。这是因为直线、多边形、色彩边界等是连续的，而光栅则是由离散的点组成，在光栅显示设备上表现直线、多边形等，必须在离散位置采样。由于采样不充分重建后造成的信息失真，就叫走样(aliasing)。
光栅图形的走样有如下几种：
- 产生阶梯或锯齿形；
- 细节或纹理绘制失真；
- 狭小图形遗失；
- 实时动画忽隐忽现、闪烁跳跃。
反走样原理：
对于能显示两级以上亮度（颜色或者灰度等级）的光栅系统，可以使用反走样方法来修改图像亮度。通过适当地改变图元边界的像素亮度，可以平滑边界以减小锯齿现象。
基本上反走样方法可分为两类：
第一类是提高分辨率 即增加采样点(提高采样频率)。然而，CRT光栅扫描设备显示非常精细光栅的能力是有限的，因此人们通常是在较高分辨率上对光栅进行计算，然后采用某种平均算法(滤除高频分量)得到较低分辨率的象素的属性，并显示在分辨率较低的显示器上 。这种方法称为超采样或后置滤波。
另一类反走样是把像素作为一个有限区域，对区域采样来调整像素的亮度，以光顺边界来减小锯齿现象。这种方法等价于图像的前置滤波。
第一类是超采样（过取样）或称后置滤波。这类算法的基本思想着眼于提高分辨率，虽然采用高分辨率的光栅图形显示器也是一个选择，但它受到客观条件的限制，而且也不经济。因此，我们往往采
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