关于芯片测试有相当多的简称和缩写，而测试这一行的相关资料又相对较少，入门门槛比较高，这里列出一些测试方面的缩写，方便有需要的人查询。表格以首字母排序。
| 缩写 | 全称 | 含义 | 缩写 | 全称 | 含义 |
|---|
| ATE | Automatic(Automated) Test Equipment | 自动化测试设备 | ATPG | Automatic Test Pattern Generation | 测试图形自动生成器 |
| AWG | Arbitrary Waveform Generator | 任意波形发生器 | BIST | Built-In Self Test | 芯片内建测试 |
| CIS | Communication | 通信接口规格 | CMRR | Common-Mode Rejection Ratio | 共模抑制比 |
| COT | Cost of Test | 测试成本 | CUT | Circuit Under Test | 被测电路 |
| DBM | Data Buffer Memory | 数据缓冲存储器 | DFT | Design For Test | 可测性设计 |
| DFT | Discrete Fourier Transform | 离散傅里叶变换 | DIB | Device Interface Board | 器件接口板 |
| DLE< |
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