实际上在wafer测试过程中经常会出现waferMap丢失或者被覆盖后期望根据测试datalog来恢复或者按照要求来生成指定TSKMap的需求。本文主要讨论其中的一个实现方案。
1.期望的tskmap文件模板；
2.datalog文件，整理成CSV或者EXCEL格式
3.TestDataanalysis软件。参考“”添加链接描述
待续
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