U盘测试
U盘测试
时间限制： 5000 ms | 内存限制： 65536 KB- 描述
-
你知道吗？一个质检及格的U盘从10层楼高处自由落体到地并不会带来任何数据损失！而一个质检及格的ACM牌U盘，采用北航最尖端的RP材料技术，结构上符合RP守恒定律，从100层高楼自由落体到地可以毫发无伤！
这天，突然来了一位火星人，他说想在火星上测试一下这种ACM牌U盘是否能通过H层高楼的自由落体测试，你需要具体测出在哪一层U盘会摔坏（即在第P层测试会摔坏，在P-1层不会坏，或者在楼顶摔也不会坏）。
实验总是有风险的，摔坏的U盘不能再参加测试，可惜这种U盘太畅销了，你只能带有限的N个U盘去火星测试。所以你需要知道在H和N确定的情况下，制定一套方案，宁可把这N个U盘砸坏，也要找到一个最小的次数K，使得无论U盘质量如何，总可以在K次实验后完成测试。
- 输入
-
输入文件有多组数据。
每组数据只有一行，即两个正整数N和H（1≤N≤15, 1≤H≤1000）。
输入以0 0结束。
输出 -
对每组数据，只需输出一行，为最少的次数K。
样例输入 -
1 2
3 7
4 15
4 16
0 0 样例输出 -
2
3
4
5 提示 -
1. 火星上的楼层数都是连续的，所以对H=2的情况，可能得到的测试结果是：
a) 在1层摔坏；
b) 在1层摔不坏而在2层摔坏；
c) 在2层摔不坏。
故对（N=1，H=2）情形，先在1层测，如果没摔坏，再在2层测，K=2。
2. 你带去的N个U盘质量都是相同的，实验时的条件也是一致的。
3. 在低层摔坏的在高层一定摔坏，在高层摔不坏的在低层一定摔不坏。
#include int vf[16][1001];int main()
{int i,j,k,max,min,n,h;for(i=1;i<=1000;i++)vf[1][i]=i;for(i=1;i<=15;i++){vf[i][1]=1;vf[i][2]=2;}for(i=2;i<=15;i++)for(j=3;j<=1000;j++){min=1000000000;for(k=1;k<=(j+1)/2;k++){max=vf[i-1][k];if(vf[i][j-k-1]>max)max=vf[i][j-k-1];max++;if(max 转载于:https://my.oschina.net/dawnpower/blog/12863
本文来自互联网用户投稿，文章观点仅代表作者本人，不代表本站立场，不承担相关法律责任。如若转载，请注明出处。 如若内容造成侵权/违法违规/事实不符，请点击【内容举报】进行投诉反馈！